南方科技大學(xué) --- 競(jìng)采采購(gòu)公告 項(xiàng)目名稱 芯片測(cè)試服務(wù) 項(xiàng)目編號(hào) --- 項(xiàng)目類型 服務(wù)類 成交方式 最低價(jià)成交 采購(gòu)方式 公開(kāi)競(jìng)采 公告開(kāi)始時(shí)間 -- :: 公告結(jié)束時(shí)間 -- :: 預(yù)算(元) . 備注 采購(gòu)明細(xì) 序號(hào) 名稱 數(shù)量 單位 芯片測(cè)試服務(wù) 次 服務(wù)內(nèi)容 . 功能測(cè)試：評(píng)估芯片在各種場(chǎng)景下的計(jì)算性能，包括處理速度、功耗、精度等指標(biāo)的測(cè)試。通過(guò)向芯片輸入預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)模式并檢查輸出結(jié)果，驗(yàn)證芯片內(nèi)各個(gè)邏輯單元是否按設(shè)計(jì)要求正確執(zhí)行運(yùn)算和處理任務(wù)。同時(shí)，還要檢測(cè)芯片內(nèi)部各信號(hào)路徑之間的時(shí)序關(guān)系是否滿足設(shè)計(jì)規(guī)范，包括建立時(shí)間、保持時(shí)間等參數(shù)。此外，還要評(píng)估芯片的工作速度、響應(yīng)時(shí)間和數(shù)據(jù)吞吐量，以確認(rèn)其在高速運(yùn)行下的性能表現(xiàn)。.功能測(cè)試：驗(yàn)證芯片是否按照設(shè)計(jì)規(guī)格正確工作，包括....